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飛納電鏡新品發(fā)布,帶你走進(jìn)掃描電鏡AI智能時(shí)代

瀏覽次數:1163 發(fā)布日期:2024-6-24  來(lái)源:本站 本站原創(chuàng ),轉載請注明出處

“隨著(zhù)科技的飛速發(fā)展,電子顯微技術(shù)已成為科研和工業(yè)領(lǐng)域不可或缺的重要工具。多年來(lái),飛納不斷推出具有創(chuàng )新性和競爭力的產(chǎn)品,贏(yíng)得了全球用戶(hù)的廣泛贊譽(yù)。飛納電鏡始終秉持創(chuàng )新精神,不斷突破技術(shù)壁壘,為全球用戶(hù)帶來(lái)更加先進(jìn)、高效的產(chǎn)品。”

一直被模仿,從未被超越!飛納電鏡煥新賦能中國科研,自從臺式場(chǎng)發(fā)射問(wèn)世,備受好評,目前臺式場(chǎng)發(fā)射又有新突破,飛納臺式場(chǎng)發(fā)射掃描透射一體機——Pharos STEM,掃透模式下分辨率突破 1nm,為臺式掃描電鏡解鎖更多應用!

 

今日我們榮幸地宣布,飛納臺式掃描電鏡技術(shù)再次實(shí)現重大突破,將引領(lǐng)掃描電鏡行業(yè)進(jìn)入全新的 AI 智能時(shí)代!掃描電鏡,不止是一臺電鏡!
 
 
飛納電鏡,不止是掃描電鏡!
一起來(lái)解鎖飛納電鏡新技術(shù)!

Part.1  Phenom MAPS 系統
“人如其名”,MAPS 是地圖的意思,該系統會(huì )像百度地圖一樣,通過(guò)層級的方式,實(shí)現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數碼存檔,從全面(宏觀(guān))到具體(微觀(guān))無(wú)所不包,徹底變革了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且,多圖層數據可以包含能譜。

這里是一個(gè)地質(zhì)樣品的能譜拼圖結果,Phenom MAPS 可以實(shí)現對整個(gè)樣品的能譜采集,導出任意拼接的原始能譜數據,以方便進(jìn)行離線(xiàn)分析。

 

Part.2  ChemiSEM 技術(shù)
一鍵點(diǎn)擊,掃描電鏡也有“彩色照”啦!
在 SEM 成像同時(shí)也可以實(shí)時(shí)收集 EDS 能譜信號,無(wú)需反復切換成像和分析模式,可以快速獲取樣品的成分信息。

 
 

Phase Mapping 技術(shù)相分布更直觀(guān) 
在使用能譜檢測樣品的同時(shí),可顯示出不同相在樣品中的分布情況,使得物相分布直觀(guān)可見(jiàn),同時(shí)具有相歸類(lèi),計算相比例等功能,非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領(lǐng)域的測試分析。

即使沒(méi)有豐富的經(jīng)驗,也能定位微量和痕量元素。 完整全面的分析,明確無(wú)誤地識別主要和次要組分,直至單個(gè)像素級別。在峰重疊導致重要元素模糊不清的情況下,定位獨特的組分。只需極少量的 X 射線(xiàn)數據即可開(kāi)始相態(tài)判斷。即使是復雜的相圖,也能在不到一分鐘內完成。 

 
Phase Mapping 自動(dòng)給出相分布結果

Part.3  Avizo Trueput 軟件
為您的電池質(zhì)量保駕護航!

專(zhuān)門(mén)為電池質(zhì)控而研發(fā)的,為您帶來(lái)自動(dòng)化的電池質(zhì)量控制和檢測的創(chuàng )新型解決方案。開(kāi)發(fā)此軟件時(shí)充分考慮到生產(chǎn)車(chē)間的需求,Avizo Trueput 軟件可以幫助您縮短 QA/QC 檢測時(shí)間,而且操作非常簡(jiǎn)單: 使用飛納電鏡獲取圖像后,選擇用于自動(dòng)檢測的分析方式,一鍵自動(dòng)生成您的檢測報告,使您可以在生產(chǎn)現場(chǎng)輕松獲取可重復的結果。

 
 

Part.4 CISA,關(guān)聯(lián)一切可視化圖片
光鏡、拉曼、紅外、XPS,甚至 CAD 或手繪草圖,通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例:通過(guò) MAPS CISA,將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合,分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

 
 

通過(guò)結合 XPS 和 SEM 的分析,可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。
 
新品發(fā)布會(huì )直播預告
飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議,重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應用案例!
 
“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議(iCEM 2024)”結合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應用熱點(diǎn),邀請業(yè)界知名電子顯微學(xué)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)應用專(zhuān)家等,重點(diǎn)邀請近來(lái)有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線(xiàn)上分享精彩報告。

 

iCEM 2024
復納科學(xué)儀器(上海)有限公司應用專(zhuān)家張傳杰將帶來(lái)主題【新品發(fā)布:飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時(shí)間:2024 年 6 月 26 日 10:30-11:00,歡迎大家報名預約觀(guān)看。

 

歡迎您隨時(shí)聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品詳情和應用案例
相關(guān)公司:復納科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系電話(huà):400-857-8882
E-mail:cici.yang@phenom-china.com


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